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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：TONGHUI同惠TH2853射頻阻抗分析儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2026-09-29

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

TONGHUI同惠TH2853射頻阻抗分析儀IV射頻原理
測(cè)試頻率：1MHz-5GHz

產(chǎn)品特性Product characteristics

?“精"——上海市先JIN企業(yè)!

“專(zhuān)"——專(zhuān)注工業(yè)測(cè)試十六年!

“特"——德國(guó)萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!

“新"——注冊(cè)資本實(shí)繳壹仟萬(wàn)元!實(shí)繳資金行業(yè)中居前茅!抗金融風(fēng)險(xiǎn)能力強(qiáng)!

TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻阻抗測(cè)試儀是采用當(dāng)前先進(jìn)的射頻IV法原理研制成功的新一代 阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。

TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻阻抗測(cè)試儀也超越了國(guó)內(nèi)外同類(lèi)儀器3GHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類(lèi)儀 器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外 儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。 

快達(dá)0.4ms的測(cè)試速度、及高達(dá)60kΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿 足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì) 因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。自動(dòng)電長(zhǎng)度測(cè)量和測(cè)試端外置的端口配置 方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將射頻IV阻抗測(cè)試能力突 破3GHz達(dá)到5GHz。

TONGHUI同惠TH2853射頻阻抗分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

無(wú)源元件： 電容器、電感器、PCB電感、磁芯、電阻器、無(wú)線充電線圈、NFC/RFID感應(yīng)線圈、音圈、ZHU聽(tīng)器、電機(jī)線圈、晶振、壓電器件、變壓器、芯片 組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。 

半導(dǎo)體元件： LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 

其它元件： 印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估 

介質(zhì)材料： 塑料、陶瓷、印刷電路板和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估 

磁性材料： 鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估 

半導(dǎo)體材料： 半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

TONGHUI同惠TH2853射頻阻抗分析儀IV射頻原理

TH2853 - 500 射頻阻抗測(cè)試儀 測(cè)試頻率：1MHz-5GHz 

TH2853 - 350 射頻阻抗測(cè)試儀 測(cè)試頻率：1MHz-3.5GHz 

TH2853 - 200 射頻阻抗測(cè)試儀 測(cè)試頻率：1MHz-2GHz 

TH2853 - 100 射頻阻抗測(cè)試儀 測(cè)試頻率：1MHz-1GHz 

TH2853 - 050 射頻LCR測(cè)試儀 測(cè)試頻率：1MHz-500MHz 

TH2852 - 500 射頻阻抗分析儀 測(cè)試頻率：1MHz-5GHz 

TH2852 - 350 射頻阻抗分析儀 測(cè)試頻率：1MHz-3.5GHz 

TH2852 - 200 射頻阻抗分析儀 測(cè)試頻率：1MHz-2GHz 

TH2852 - 100 射頻阻抗分析儀 測(cè)試頻率：1MHz-1GHz 

TH2852 - 050 射頻阻抗分析儀測(cè)試頻率：1MHz-500MHz 

基本精度：±0.3%（典型值） 

高精度：采用射頻IV法，在GHz能仍保持很高的測(cè)試精度 •  高穩(wěn)定性和一致性 

高速度：最快達(dá)0.4ms/點(diǎn)的測(cè)試速度 

高分辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800 

點(diǎn)測(cè)、列表、掃描、等效電路分析，自動(dòng)化分選 

1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能 

四參數(shù)測(cè)量 

4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有14   種分屏顯示方式 

圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選，頻率分段掃描并分選 

高兼容性：支持SCPI指令集 

集成史密斯圓圖，不需要網(wǎng)絡(luò)分析儀即可調(diào)試射頻阻抗匹配 

測(cè)試頭外置+自動(dòng)電氣長(zhǎng)

TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻阻抗測(cè)試儀包括以下幾種類(lèi)型：

簡(jiǎn)要參數(shù)

TH2852 - 050

TH2853 - 050

TH2852 - 100

TH2853 - 100

TH2852 - 200

TH2853 - 200

TH2852 - 350

TH2853 - 350

TH2852 - 500

TH2853 - 500

測(cè)試頻率

1MHz - 500MHz

1MHz - 1GHz

1MHz - 2GHz

1MHz - 3.5GHz

1MHz - 5GHz

基本精度±0.3%（典型值）

AC信號(hào)源電壓-41dBm — +1dBm

DC偏置源

電壓0V—±40V

TH2852系列射頻阻抗分析儀 / TH2853系列射頻阻抗測(cè)試儀區(qū)別：

功能參數(shù)

TH2852系列

TH2853系列

頻率最小分辨率

1mHz

1kHz

測(cè)試功能

點(diǎn)測(cè)、列表、曲線掃描、史密斯圓圖

點(diǎn)測(cè)、列表、曲線掃描

曲線掃描光標(biāo)功能

√

選配

曲線掃描

統(tǒng)計(jì)分析功能

√

X

曲線掃描

數(shù)據(jù)保存功能

√

X

曲線掃描

等效電路分析

√

選配

曲線掃描 史密斯圓圖

√

X

磁導(dǎo)率測(cè)試 介電常數(shù)測(cè)試

選配

X

A.高精度 

寬帶射頻IV法電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在1MHz-5GHz頻率、100mΩ-60kΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測(cè)量精度，其中最高測(cè)試精度達(dá)±0.3%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試精度。

B.高穩(wěn)定性和高一致性 

測(cè)試條件：速度5，輸出功率-10dBm(141mV)，TH2852-1測(cè)試頭被測(cè)件50Ω標(biāo)準(zhǔn)件。

設(shè)置頻率

短期穩(wěn)定度

1MHz±0.003%

10MHz±0.003%

100MHz±0.002%

500MHz±0.002%

1GHz±0.003%

2GHz±0.005%

3GHz±0.013%

4GHz±0.008%

5GHz±0.031%

C.高速度

D.10.1吋大屏，四種測(cè)量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺 

10.1吋觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英 文操作界面，支持鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來(lái)的 是無(wú)以倫比的操作便捷性。 大屏幕帶來(lái)更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來(lái)絕 不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意 可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)。

E.增強(qiáng)的列表掃描功能 

可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試 頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

F.分析圖形界面 

最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道 可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有 十四種分屏顯示方法。

通道

顯示窗口

單個(gè)窗口可以設(shè)置不同掃描條件

每個(gè)窗口可以設(shè)置4條曲線

曲線

測(cè)量參數(shù)

       單通道四曲線顯示             單通道單曲線

       雙通道雙曲線顯示           四通道四曲線

G.分段掃描功能 

單通道四曲線顯示 雙通道雙曲線顯示 單通道單曲線 四通道四曲線 分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示， 用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。 如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過(guò)分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無(wú)需掃描 不相關(guān)頻率。

H.光標(biāo)分析能力 

TH2852 系列精密阻抗分析儀具有光標(biāo)分析能力，可以通過(guò)光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能： 1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值） 2. 3. 4. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找） 分析曲線測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放 TH2852 系列可以在每條曲線上顯示 10 個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。 每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值（坐標(biāo)系 X 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系 Y 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）。 光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn)： 最大值、最小值 峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值 目標(biāo)值： 距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

I.圖形分析功能 

1） 曲線分選功能 可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。

2） 等效電路分析 

現(xiàn)實(shí)生活中不同類(lèi)型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四 參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路 模型用于等效這些器件。 可以通過(guò)仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲 線進(jìn)行對(duì)比，還可以通過(guò)您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。 等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用。

3） 曲線軌跡對(duì)比 

曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用： 

a) 針對(duì)多種不同被測(cè)件 對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡 設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值 

b) 針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件 對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性 設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

J.介電常數(shù)分析（選件） 

TH2852系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析，需選購(gòu)測(cè)試夾具及分析軟件。

TH2852 阻抗分析儀主機(jī)

TH26089 介質(zhì)材料測(cè)試夾具

TH2852 介電常數(shù)測(cè)試軟件

TH2852系列 校準(zhǔn)套件

2.TH26089介質(zhì)材料測(cè)試夾具 

TH26089電介質(zhì)材料測(cè)試夾具是設(shè)計(jì)在TH2852系列上進(jìn)行準(zhǔn)確的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)量的夾具。通過(guò)使用平行板方法 測(cè)量固態(tài)材料的介電常數(shù)，從而消除離散電容。

1）TH26089外形結(jié)構(gòu)

2）基本參數(shù)

測(cè)試頻率DC-1GHz

測(cè)量參數(shù)電容（C）、耗損因數(shù)（D）、介電常數(shù)（εr', εr''）

測(cè)試電極

被測(cè)材料直徑

被測(cè)材料厚度≥13mm

0.3mm-3mm

測(cè)試原理

平行板測(cè)量法

校準(zhǔn)

開(kāi)路、短路、負(fù)載

3.介電常數(shù)分析軟件 

該軟件為選件，開(kāi)通后在TH2852系列界面直接選擇對(duì)應(yīng)的參數(shù)即可，分別可以單測(cè)、列表掃描、曲線掃描，下圖為曲線掃描界面。

F. 磁導(dǎo)率分析

TH2852系列支持磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試，在主機(jī)的基礎(chǔ)上，需選配測(cè)試夾具及磁導(dǎo)率分析軟件，具體配置如下：

TH2852系列 阻抗分析儀主機(jī)

TH26088 磁導(dǎo)率測(cè)試夾具

TH2852系列 磁導(dǎo)率測(cè)試軟件

TH2852系列 校準(zhǔn)套件

2.測(cè)試夾具

1）TH26088外型結(jié)構(gòu)

2）TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具

TH26088可精確測(cè)量環(huán)形磁性材料的磁導(dǎo)率。由于該夾具的結(jié)構(gòu)是環(huán)形線圈繞一圈（無(wú)漏磁），因此不需要繞環(huán)形線圈的導(dǎo)線，而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個(gè)小型和一個(gè)大型夾具，適應(yīng)各種尺寸，是測(cè)量磁性材料的理想結(jié)構(gòu)。

3）技術(shù)參數(shù)

測(cè)試頻率DC - 1GHz

樣本尺寸

高度h

內(nèi)徑范圍b（直徑）

外徑范圍c（直徑）

小型部件用

≤ 3 mm

≥ 3.1 mm

≤ 8 mm

大型部件用

≤ 8.5 mm

≥ 5 mm

≤ 20 mm

4.磁導(dǎo)率分析軟件選擇開(kāi)通磁導(dǎo)率分析軟件之后，儀器便可以在單測(cè)、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導(dǎo)率參數(shù)，直接在界面顯示測(cè)試結(jié)果。

TH2852-050 TH2853-050

TH2852-100 TH2853-100

TH2852-200 TH2853-200

TH2852-350 TH2853-350

TH2852-500 TH2853-500

顯示

10.1英寸TFT LCD顯示器1280×RGB×800，電容式觸摸屏

AC測(cè)量參數(shù)|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、 Z（阻抗圓）、Y（導(dǎo)納圓）、史密斯圓圖、介電/磁性材料測(cè)量（選件）

DC測(cè)量參數(shù)VDC、IDC、RDC

測(cè)試頻率

范圍

1MHz - 500MHz

1MHz - 1GHz

1MHz - 2GHz

1MHz - 3.5GHz

1MHz - 5GHz

最高分辨率1mHz（TH2852系列），1kHz（TH2853系列）

測(cè)試電平AC電壓-41dBm - +1dBm

AC電流80μA - 10.04mArms

DC偏置電壓0V - ±40V

電流0mA - ±100mA

典型測(cè)量時(shí)間（速度）

五檔：0(快速) - 5(精確) （不包括通訊時(shí)間的算數(shù)平均值）0：0.4ms 1：4ms 2：26ms 3：65ms 4：130ms 5：650ms

最高準(zhǔn)確度±0.3%（典型值）

測(cè)量顯示范圍

a 1×10-18； E 1×1018

Cs、Cp±9.99999aF–9.99999EF

Ls、Lp±1.00000aH - 99.9999EH

D±0.00001 - 9.99999

Q±0.01 - 99999.9

R、Rs、Rp、X、Z±1.00000aΩ - 999.999EΩ

G、B、Y±1.00000aS - 99.9999ES

Vdc±1.000000aV - 999.9999EV

Idc±1.00000aA - 999.999EA

θr±1.00000arad - 3.14159 rad

θd±0.0001deg - 180.000 deg

Δ%±0.0001% - 999.999%

分選LCR模式10檔分選；

掃描模式每條曲線單獨(dú)分選

接口RS232C，USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI

開(kāi)機(jī)預(yù)熱時(shí)間30分鐘

輸入電壓100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz

功耗最大150VA

尺寸（WxHxD）mm428x220x280

重量14kg