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基礎信息Product information

產品名稱：絕緣電阻劣化CAF電化學離子遷移測試

產品型號：

更新時間：2026-09-24

產品簡介：

符合國際行業(yè)標準要求JPCA-ET04、IPC-TM-650，IEC61189-5，IEC1086，ISO-9455-17等絕緣電阻測量PCB耐CAF能力評估，失效分析加速老化測試，絕緣電阻劣化CAF電化學離子遷移測試。PCB耐CAF能力離子遷移評估

產品特性Product characteristics

“精"——上海市先JIN企業(yè)!

“專"——專注工業(yè)測試十六年!

“特"——德國萊茵TUV認證供應商!

“新"——注冊資本實繳壹仟萬元!實繳資金行業(yè)中居前茅!抗金融風險能力強!

符合國際行業(yè)標準要求JPCA-ET04、IPC-TM-650，IEC61189-5，IEC1086，ISO-9455-17等絕緣電阻測量PCB耐CAF能力離子遷移評估，失效分析加速老化測試，絕緣電阻劣化CAF電化學離子遷移測試。

JR-AMI多路絕緣電阻測試系統(tǒng)主要應用領域

助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導電膠等有關印刷電路板、高密度封裝的材料

BGA、 CSP 等精細節(jié)距 IC 封裝件

有機半導體相關（有機 EL)

電容、連接器等其他電子元器件及材料

各種絕緣材料的吸濕性特性評估

多路絕緣電阻測試系統(tǒng)

高靈敏 · 抗干擾 · 多通道

 絕緣性測量

 PCBA輔料兼容性評估

 PCB 耐CAF能力評估

 失效分析加速老化測試

表面絕緣電阻（SIR）概述

測試對象

助焊劑

清洗劑

錫膏

膠黏劑

印刷電路板

其他絕緣和半導體材料…

影響因素

溫度

濕度

測量電壓

作用時間

繞組中的殘余電荷

絕緣表面狀況表面絕緣電阻（SIR）概述

材料的潮濕和污染情況

材料特性檢測和驗證

失效分析

品質一致性檢查

產品壽命的預

測分析等電化學遷移現(xiàn)象

面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝，因結露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動，可高精度連續(xù)監(jiān)測，高效簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。絕緣電阻劣化CAF電化學離子遷移測試適用標準： JPCA-ET04、 IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、 IPC-TM-650_2.6.3.4A 、 IPC-TM-650_2.6.3.6。

1 表面絕緣電阻（SIR）及電遷移概述表面絕緣電阻（SIR）概述

表面絕緣電阻

Surface Insulation Resistance

表面絕緣阻抗可以定義為絕緣材料兩個電路導體之間的電阻

是電氣設備和電氣線路最基本的絕緣指標

電化學遷移

Electro Chemical Migration

電化學遷移可以定義為在電路板上的導電金屬纖維在偏置直流電壓下生長。

這個現(xiàn)象可能在電路板內部，外部，或者多層板材料間發(fā)生。

由于陽極離子會溶于溶液中，通過電場的作用，從而在陰極上沉積最終造成金屬纖維的生長。

表面絕緣電阻（SIR）概述

印刷電路板表面受外在離子污染或因腐蝕后銅焊盤表面所產生的離子, 將從印刷電路板表面的陽極透過印刷電路板的內層向陰極沉積造成漏（導）電現(xiàn)象。

電化學遷移通常造成兩種現(xiàn)象。當污染存在時，在一定的電壓的作用下，在陽極和陰極之間形成表面的晶枝生長。當接觸面為錫鉛焊錫時，鉛晶枝會形成樹狀結構內部，而錫晶枝多為雪花結構。如果偏置電壓足夠高，在陽極和陰極之間的晶枝會凸出，造成本地的破碎結構。第二種常見的電化學現(xiàn)象就是發(fā)生導電陽極絲現(xiàn)象（CAF） 。

表面絕緣電阻（SIR）在電子制造領域應用：

在電子制造領域， SIR被認為是評估用戶線路板組裝材料的有效評估手段。

表面絕緣阻抗SIR測試可以用來評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問題。這些失效通常是由于材料的交互性，工藝控制上的疏忽，或者材料本身特性不能達到用戶所需要的性能。通過加速溫濕度的變化， SIR能夠測量測試在特定時間內電流的變化。

在電子制造領域電路板的清潔度也被普遍認為是影響長期可靠性和性能的重要因素。所以監(jiān)控其清潔度/污染程度的SIR

也是不可少的手段。表面絕緣阻抗（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映其清潔度。這也是為什么電路板制造商，助焊劑，涂覆材料和電子產品組裝廠商也往往將SIR將作為一個重要的工藝和產品控制工具。

2 表面絕緣電阻（SIR）測試系統(tǒng)系統(tǒng)特點：

依據(jù)IPC標準進行設計開發(fā)、制造

高電阻范圍，可達5E+04~1E+1 Ω

寬電壓范圍，電壓范圍可達0~500V

多通道設計，支持擴展128通道

偏置、 測試電壓， 測試時間獨立任意設置多模塊獨立分組測試，可同時進行不同要求的試驗測試結果可通過曲線、表格的形式進行顯示和交互基于SQL Server數(shù)據(jù)庫進行存儲和管理，便于回溯

表面絕緣電阻（SIR）測試系統(tǒng)

項目 參數(shù)

通道數(shù) 64通道（可擴展128通道）

測試組數(shù) 4組（16通道/組）

工作時間 1~9999H

測試電壓 0~100V（0.001V步進）

100~500V（0.01V步進）

偏置電壓 0~500V

電阻范圍 5E+04~1E+1 Ω

電流測量范圍 20pA~2mA

電阻測試速度 4~6秒/通道（典型）

64通道≤ 5分鐘

測試間隔時間 任意

測試電壓穩(wěn)定時間 1-600秒

測試儀器 J R 2985

外形尺寸 550*300*150（長*寬*深）

設備凈重 12Kg

輸入電壓 AC 220V

性能特點 Performance characteristics

多路絕緣電阻（CAF）測試系統(tǒng)

500V~3000V多種測試電壓模塊選擇及組合使用

測試通道可以128CH為基數(shù)模組無限擴展

高速測試能力，所有通道總測試時間≤3分鐘(512CH)

16CH為最小單位任意設置獨立測試組

通道數(shù)量可達：128/256/384/512

參數(shù)保存間隔：≥1min 可設

寬范圍的阻值測試范圍：106Ω ~ 1014Ω

具有測試中暫停、測試中斷恢復功能

技術參數(shù) Technical parameter

電壓 500V 1000V 1500V 2000V 2500V 3000V

通道數(shù) 128/256/384/512 128/256/384/512 128/256/384/512

測試組數(shù) 8～32組(16通道/組) 8～32組(16通道/組) 8～32組(16通道/組)

測試電壓精度 5～20VDC(±3%)

21～500VDC(±1%)

5～20VDC(±3%)

21～1000VDC(±1%)

5～20VDC(±3%)

21～1000VDC(±1%)內部

1000VDC～3000VDC(±3%)外部

步進電壓 1V 1V 1V

電阻測量范圍 1×106～1×1013Ω 1×106～1×1014Ω 1×106～1×1014Ω

電阻測量精度

1×106～1×1010Ω≤±5%

(測試電壓5V)

1×106～1×1010Ω≤±5%

(測試電壓5V)

1×106～1×1010Ω≤±5%

(測試電壓5V)

1×1010～1×1011Ω≤±10%

(測試電壓5V)

1×1010～1×1011Ω≤±10%

(測試電壓5V)

1×1010～1×1011Ω≤±10%

(測試電壓5V)

1×1011～1×1012Ω≤±15%

(測試電壓50V)

1×1011～1×1012Ω≤±15%

(測試電壓50V)

1×1011～1×1012Ω≤±15%

(測試電壓50V)

1×1012～1×1013Ω≤±30%

(測試電壓100V)

1×1012～1×1013Ω≤±30%

(測試電壓100V)

1×1012～1×1013Ω≤±30%

(測試電壓100V)

電阻測試速度 10秒/通道

512通道≤3分鐘

10秒/通道

512通道≤3分鐘

10秒/通道

512通道≤3分鐘

測試方式 連續(xù) 連續(xù) 連續(xù)

自動保存時間 1分鐘(可設) 1分鐘(可設) 1分鐘(可設)

保護電阻 1MΩ/5MΩ 1MΩ/5MΩ/10MΩ 1MΩ/5MΩ/10MΩ

UPS保護時間 30分鐘 30分鐘 30分鐘

尺寸 1600×600×800mm 1600×600×800mm 1600×600×800mm

輸入電壓 AC 220V±10% AC 220V±10% AC 220V±10%功 能 介 紹 Function introduction

實時監(jiān)控功能

自動記錄并顯示測試結果和試驗時間

可視化圖形界面

電阻可通過曲線模式、 柱狀模式顯示

秒 分鐘 小時

6 4 2 0 6 5 4 3 2 1 0功 能 介 紹 Function introduction

自研上位機軟件支持定制功能

圖形化、實時數(shù)據(jù)兼?zhèn)?、界面簡單易操?/span>

標配USB接口，通過電腦端更詳細讀取分析數(shù)據(jù)

應用領域 Application area

汽車電子 外部環(huán)境監(jiān)控設備 消費電子

PCB廠家

對PCB板材進行長時間CAF測試，模擬出板材在經過長期高溫高濕等惡劣環(huán)境下性能參數(shù)變化的趨勢。

檢測機構

PCB生產商無此設備或無資質的需要外派到第三方機構進行檢測，具備專業(yè)資質的檢測機構。

案例分析 Case analysis

某檢測機構使用CAF測試系統(tǒng)512路PCB板長期絕緣性能認證測試