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基礎信息Product information

產(chǎn)品名稱：TH513半導體器件C-V特性分析儀

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-11-05

產(chǎn)品簡介：

國產(chǎn)TH513半導體器件C-V特性分析儀替代進口，測MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路半導體功率器件，曲線圖示儀

產(chǎn)品特性Product characteristics

“精"——上海市先JIN企業(yè)!

“專"——專注工業(yè)測試十六年!

“特"——德國萊茵TUV認證供應商!

“新"——注冊資本實繳壹仟萬元!實繳資金行業(yè)中居前茅!抗金融風險能力強!

TH513半導體器件C-V特性分析儀  

性能特點

 一體化設計：

    LCR+柵極電壓VGS

 +漏極電壓VDS

 +通道切換+上位機軟件

• 柵極電壓VGS：0 - ±40V

 • 漏極電壓VDS：0 - ±200V/±1500V/±3000V

 • 單管器件（點測）、模組器件（列表掃描）、曲線掃描(選件)

   三種測試方式

• 四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)

   同屏一鍵測量及顯示

• 標配2通道，可擴展至6通道，可測單管、多芯或模組器件    （TH513僅1通道）

• CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描

• 電容快速充電技術，實現(xiàn)快速測試

• 接觸檢查Cont

 • 通斷測試OP_SH

 • 自動延時設置

• Crss Plus功能：解決高頻下Crss負值問題

• 高壓擊穿保護：DS瞬間短路，保護儀器

• Interlock安全鎖功能：增加高壓防護墻(僅TH513)

 • Cs-V功能：二極管結電容CV特性測試分析

• 等效模式轉換功能，可選Cs或Cp模式

• 10檔分選

TH513半導體器件C-V特性分析儀應用

• 半導體元件/功率元件

   二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

• 半導體材料

   晶圓、C-V特性分析

• 液晶材料

   彈性常數(shù)分析

 標配RS232  √ USB HOST  √ USB DEVICE  √ LAN  √ HANDLER  √

產(chǎn)品型號TH511TH512TH513

通道數(shù)2（可選配4/6通道）1

顯示顯示器10.1英寸(對角線)電容觸摸屏

比例16:9

分辨率1280×RGB×800

測量參數(shù)CISS、COSS、CRSS、Rg，四參數(shù)任意選擇

測試頻率范圍1kHz-2MHz

精度0.01%

分辨率10mHz1.00000kHz-9.99999kHz

100mHz10.0000kHz-99.9999kHz

1Hz100.000kHz-999.999kHz

10Hz1.00000MHz-2.00000MHz

測試電平電壓范圍5mVrms-2Vrms

準確度±（10%×設定值+2mV）

分辨率1mVrms0.5Vrms-1Vrms

10mVrms1Vrms-2Vrms

VGS電壓范圍0 -   ±40V

準確度1%×設定電壓+8mV

分辨率1mV0V - ±10V

10mV±10V - ±40V

VDS電壓范圍0 -   ±200V0 -   ±1500V0 -   ±3000V

準確度1%×設定電壓+100mV

輸出阻抗100Ω，±2%@1kHz

數(shù)學運算與標稱值的絕對偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ%

校準功能開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD、夾具校準

測量平均1-255次

AD轉換時間（ms/次）快速+：2.5ms(＞5kHz)

快速：11ms,

中速：90ms

慢速：220ms

最高準確度0.5%（具體參考說明書）

CISS、COSS、CRSS0.00001pF   - 9.99999F

Rg0.001mΩ   - 99.9999MΩ

Δ%±（0.000% - 999.9%）

多功能參數(shù)列表掃描點數(shù)50點，每個點可設置平均數(shù)，每個點可單獨分選

參數(shù)測試頻率、Vg、Vd、通道

觸發(fā)模式順序SEQ：當一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量，/EOM/INDEX只輸出一次

步進STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量，每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出

圖形掃描掃描點數(shù)任意點可選，最多1001點

結果顯示同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線

顯示范圍實時自動、鎖定

坐標標尺對數(shù)、線性

掃描參數(shù)Vg、Vd、Freq

觸發(fā)方式手動觸發(fā)一次，從起點到終點一次掃描完成，下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描

結果保存圖形、文件

比較器Bin分檔10Bin、PASS、FAIL

Bin偏差設置偏差值、百分偏差值、關

Bin模式容差

Bin計數(shù)0-99999

檔判別每檔最多可設置四個參數(shù)極限范圍，四個測試參數(shù)結果設檔范圍內(nèi)顯示對應檔號，超出設定最大檔號范圍則顯示FAIL，未設置上下限的測試參數(shù)自動忽略檔判別

PASS/FAIL指示滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮，否則FAIL燈亮

存儲調(diào)用內(nèi)部約100M非易失存儲器測試設定文件

外置USB測試設定文件、截屏圖形、記錄文件

鍵盤鎖定可鎖定前面板按鍵，其他功能待擴充

接口USB HOST2個USB HOST接口，可同時接鼠標、鍵盤，U盤同時只能使用一個

USB DEVICE通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USB TMC-USB488和USB2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。

LAN10/100M以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇

HANDLER用于Bin分檔信號輸出

RS232C標準9針，交叉

RS485標準差分線

GPIB24針D-Sub端口（D-24 類），陰接頭與IEEE488.1、2和SCPI兼容

開機預熱時間60分鐘

輸入電壓100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz

功耗不小于130VA

尺寸（WxHxD）mm430x177x405

重量16kg

技術參數(shù) 

產(chǎn)品型號TH511 TH512 TH513

通道數(shù)2（可選配4/6通道）

顯示

顯示器10.1英寸(對角線)電容觸摸屏

比例16:9

分辨率1280×RGB×800

測量參數(shù)Ciss、

Coss、Crss、Rg，四參數(shù)任意選擇

測試頻率

范圍1kHz-2MHz

精度0.01%

分辨率

10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz

 100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz

 1Hz 100.000kHz-999.999kHz

 10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz

測試電平

電壓范圍5mVrms-1Vrms

準確度±（10%×設定值+2mV）

分辨率1mVrms 5mVrms-1Vrms

 VGS

電壓

范圍0 - ±40V

準確度1%×設定電壓+8mV

分辨率

1mV 0V - ±10V

 10mV ±10V - ±40V

 VDS

電壓范圍0 - ±200V 0 - ±1500V 0 - ±3000V

準確度1%×設定電壓+100mV

輸出阻抗100Ω，±2%@1kHz

數(shù)學運算與標稱值的絕對偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ%

校準功能開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD、夾具校準

測量平均1-255次

AD轉換時間（ms/次）

快速+：2.5ms(＞5kHz)

快速：11ms

中速：90ms

慢速：220ms

最高準確度0.5%（具體參考說明書）

  Ciss、Coss、Crss 0.00001pF - 9.99999F

 Rg 0.001mΩ - 99.9999MΩ

 Δ% ±（0.000% - 999.9%）

多功能參數(shù)

列表掃描

點數(shù)50點，每個點可設置平均數(shù)，每個點可單獨分選

參數(shù)測試頻率、Vg、Vd、通道

觸發(fā)模式

順序SEQ：當一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量，/EOM/INDEX只輸出一次

步進STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量，每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在最

后的/EOM才輸出

圖形掃描

掃描點數(shù)任意點可選，最多1001點

結果顯示同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 

顯示范圍實時自動、鎖定

坐標標尺對數(shù)、線性

掃描參數(shù)Vg、Vd

觸發(fā)方式手動觸發(fā)一次，從起點到終點一次掃描完成，下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描

結果保存圖形、文件

比較器

Bin分檔10Bin、PASS、FAIL

 Bin偏差設置偏差值、百分偏差值、關

Bin模式容差

Bin計數(shù)0-99999

檔判別每檔最多可設置四個參數(shù)極限范圍，四個測試參數(shù)結果設檔范圍內(nèi)顯示對應檔號，超出設定最大檔號

范圍則顯示FAIL，未設置上下限的測試參數(shù)自動忽略檔判別

PASS/FAIL指示滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮，否則FAIL燈亮

存儲調(diào)用內(nèi)部約100M非易失存儲器測試設定文件

外置USB測試設定文件、截屏圖形、記錄文件

鍵盤鎖定可鎖定前面板按鍵，其他功能待擴充

接口

USB HOST 2個USB HOST接口，可同時接鼠標、鍵盤，U盤同時只能使用一個

USB DEVICE通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USB TMC-USB488和USB2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。

LAN 10/100M以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇

HANDLER用于Bin分檔信號輸出

RS232C標準9針，交叉

RS485標準差分線

GPIB 24針D-Sub端口（D-24 類），陰接頭與IEEE488.1、2和SCPI兼容

開機預熱時間60分鐘

輸入電壓100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz

供電電源功率不小于130VA

尺寸（WxHxD）mm 430x177x405

重量16kg

隨機附件

電源線一根

TH26063B 測試夾具    （僅TH511和TH512）

TH26063C 測試夾具    （僅TH511和TH512）

TH26063D 連接電纜    （僅TH511和TH512）

TH26063G 測試延長線（僅TH511和TH512）

TH26071C USB轉RC232通訊線纜

TH513-1   測試夾具    （僅TH513） 

簡介

TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。

儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。

CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析（此功能為選件）。

儀器設計頻率為1kHz-2MHz，Vgs電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。

功能特點

A.一體化測試，集成度高、體積小、效率高

   一臺儀器內(nèi)置了LCR數(shù)字電橋、VGS電壓源、VDS電壓源、高低壓切換矩陣以及上位機軟件，將復雜的接線、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統(tǒng)內(nèi)，操作更簡單。特別適合產(chǎn)線快速化、自動化測試。

B.單管器件測試，10.1寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細節(jié)一覽無遺

   MOSFET或IGBT最重要的四個寄生參數(shù)：Ciss、Coss、Crss、Rg，Cies、Coes、Cres、Rg均可一鍵測試，10.1寸大屏可同時將測量結果、等效電路圖、分選結果等重要參數(shù)同時顯示，一目了然。

   一鍵測試單管器件器件時，無需頻繁切換測試腳位、測量參數(shù)、測量結果，大大提高了測試效率。

C.列表測試，多個、多芯、模組器件測量參數(shù)同屏顯示

   TH510系列半導體C-V特性分析儀支持最多6個單管器件、6芯器件或6模組器件測試，所有測量參數(shù)通過列表掃描模式同時顯示測試結果及判斷結果。

D.曲線掃描功能（選件）

   在MOSFET的參數(shù)中，CV特性曲線也是一個非常重要的指標，如下圖

   TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析，可以以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描，可同時顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線。

   TH510系列同時支持多種曲線掃描模型

   曲線支持散點標記及粗細調(diào)節(jié)

   Ciss-Rg曲線掃描

E.Cs-V功能,二極管結電容CV特性測試分析

    得益于TH510系列功率器件CV特性分析儀內(nèi)置了2路直流電源，使二極管的CV特性分析成為可能，Cs-V功能可用于測試各種二極管的結電容，并可分析二極管的CV特性。

F.等效模式轉換

   TH510系列功率器件CV特性分析儀測試結果的電容C均為串聯(lián)模式Cs，對于部分需求測試并聯(lián)模式Cp需求的客戶，可自行切換

G. 多種獨特技術，解決自動化配套測試痛點

       在配套自動化設備或者產(chǎn)線時，經(jīng)常會遇到下列問題，同惠針對多種情況進行了優(yōu)化。

       1）獨特技術解決Ciss、Coss、Crss、Rg產(chǎn)線/自動化系統(tǒng)高速測試精度

同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經(jīng)驗積累，得以在產(chǎn)線、自動化測試等高速高精度測試場合，都能保證電容、電阻等測試精度。

常規(guī)產(chǎn)線測試，提供標準0米測試夾具，直插器件可直接插入進行測試，Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度高。                   image.png        

針對自動化測試，由于自動化設備測試工裝通常需要較長連接線，大多自動化設備生產(chǎn)商在延長測試線時會帶來很大的精度偏差，為此，同惠設計了獨特的2米延長線并內(nèi)置了2米校準，保證Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度和0米測試夾具一致。

       2）接觸檢查（Contact）功能，提前排除自動化測試隱患

在高速測試特別是自動化測試中，經(jīng)常會由于快速插拔或閉合，造成測試治具或工裝表面磨損、引線斷裂而接觸不良，接觸不良的造成的最直接后果是誤判測試結果而難以發(fā)現(xiàn)，在廢品率突然增加或發(fā)出產(chǎn)品故障原因退回時才會發(fā)現(xiàn)，因此是一個極大的隱患。

同惠TH510系列半導體C-V特性分析儀采用了獨特的硬件測試方法，采用了四端測量法，每個腳位均有兩根線連接，若任意一根線斷裂或者接觸點接觸不良，均可及時發(fā)現(xiàn)并提供接觸不良點提示，儀器自動停止測試，等待進一步處理。

保障了結果的準確性，同時利于客戶及時發(fā)現(xiàn)問題，避免了不良品率提高及故障品退回等帶來的損失。

       3）快速通斷測試（OP_SH）,排除損壞器件

在半導體器件特性測試時，由于半器件本身是損壞件，特別是多芯器件其中一個芯已經(jīng)損壞的情況下，測試雜散電容仍有可能被判斷為合格，而半導體器件的導通特性才是最重要的特性。

因此，對于本身導通特性不良的產(chǎn)品進行C-V特性測試是沒有必要的，不僅僅浪費了測量時間，同時會由于C-V合格而混雜在良品里，導致成品出貨后被退回帶來損失。

TH510系列半導體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試（OP_SH）功能,可用于直接判斷器件本身導通性能。

       4）Crss+Plus功能，解決自動化測試系統(tǒng)高頻下Crss負值問題      

Crss電容通常在pF級，容量較小，測試是個難題。

而在自動化測試系統(tǒng)中，由于過多的轉接開關、過長測測試引線等帶來的寄生參數(shù)。

因此，測試Crss，特別是在高頻測試時通常會出現(xiàn)負值，

同惠電子憑借在電容器測試行業(yè)30年的技術及經(jīng)驗積累，采用獨特的算法的Crss Plus模式，可保證即使是在自動化測試系統(tǒng)中、高頻下也能測的正確的結果。

       5）漏源高壓擊穿保護技術，防止損壞測試儀器

在測試功率器件電容時，漏極D通常會加上高壓，特別是第三代功率半導體器件，電壓甚至可高達1000V-3000V，當漏源瞬間擊穿時，常會導致電容器瞬間短路放電，在漏源電壓1500V時，放電電流可高達780A，如此大的瞬間電流，會反沖至儀器內(nèi)部電路，并導致?lián)p壞。

同惠高壓擊穿保護技術，解決了此隱患，避免經(jīng)常由于高壓沖擊損壞儀器，降低了維修成本的同時提高了自動化測試的效率。

       6）Interlock互鎖功能，確保高壓下操作環(huán)境安全（僅TH513）

在測試功率器件需施加高壓，因此對于操作者及其他設備的安全隔離非常重要，特別是在自動化產(chǎn)線，通常會將高壓設備放置在一個隔離的環(huán)境，并通過安全門開啟關閉來保證操作者的安全。

TH510系列功率器件CV特性分析儀配置了Interlock接口，可與安全門開關連接，在安全門開啟時切斷高壓輸出并禁止儀器啟動，只有關閉后才能正常工作。確保了操作者和設備的安全。

       7）模組式器件設置，支持定制

針對模組式器件如雙路（Dual）MOSFET、多組式IGBT，有些器件會有不同類型芯片混合式封裝，TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化，常見模組式芯片Demo已內(nèi)置，特殊芯片支持定制。

       8）10檔分選及可編程HANDLER接口

儀器提供了10檔分選，為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級提供了可能，分選結果直接輸出至HANDLER接口

在與自動化設備連接時，怎么配置HANDLER接口輸出，一直是自動化客戶的難題，TH510系列LCR將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應信號、應答方式等可視化，讓自動化連接更簡單。

TH512國產(chǎn)半導體參數(shù)分析儀規(guī)格參數(shù)指標